测量和模型

模型对于解释现实世界实体的数值元素的行为以及测量它们非常有用。为了帮助测量过程，映射模型还应补充映射域模型。模型还应指定这些实体与属性的关系以及特征之间的关系。

测量有两种类型 −

• 直接测量
• 间接测量

直接测量

这些是可以在不涉及任何其他实体或属性的情况下进行测量的测量。

以下直接测量通常用于软件工程。

• 按 LOC 计算的源代码长度
• 按经过时间计算的测试目的持续时间
• 通过计算缺陷来计算测试过程中发现的缺陷数量
• 程序员花在程序上的时间

间接测量

这些是可以根据任何其他实体或属性进行测量的测量。

以下间接测量在软件工程中很常用。

$$small 程序员生产力 = ffrac{LOC : 产生的 }{人 :月 : 工作量}$$

$small 模块缺陷密度 = ffrac{缺陷数量}{模块大小}$

$$small 缺陷检测效率 = ffrac{检测到的缺陷数量}{总缺陷数量}$$

$small 需求稳定性 = ffrac{初始需求数量}{总数量:of:requirements}$

$small 测试有效性比率 = ffrac{覆盖的项目数}{项目总数}$

$small 系统损坏 = ffrac{修复故障所花费的努力}{项目总努力}$

预测测量

为了为项目分配适当的资源，我们需要预测开发项目的工作量、时间和成本。预测测量始终需要一个数学模型，该模型将要预测的属性与我们现在可以测量的其他属性相关联。因此，预测系统由一个数学模型和一组用于确定未知参数和解释结果的预测程序组成。